aos等射频电源维修

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aos等射频电源测试系统由三部分组成,分别是被驱动系统、可调模拟负载及上位机。可调模拟负载如磁粉制动器、电力测功机等,它和被测电动机同轴相连。要使用比较细的笔或指尖进行定位,这样比较准。表面声波触摸屏的工作环境要求较高,它必需要求工作在一个干净、没有灰尘污染的环境中,而且还要按期清洁触摸屏表面上的灰尘,不然的话,空气中的灰尘笼盖在触摸屏周围的反射条纹或换能器上时,就会影响系统的准确定位。不要让触摸屏表面有水滴或其它软的东西粘在表面,否则触摸屏很轻易错误以为有手触摸造成表面声波屏不准。另外在清除触摸屏表面上的污物时,您可以用的干布或者清洁剂小心地从屏幕向外擦拭,或者用一块干的软布蘸产业酒精或玻璃清洗液清洁触摸屏表面。假如用手或者其他触摸物来触摸表面声波触摸屏时,触摸屏反应很痴钝,这说明很有可能是触摸屏系统已经陈旧,内部时钟太低。。. 我公司自成立以来,致力于工控产品、医疗器械、智能仪器等的维修和服务。. 凌肯自动化本着“合作共赢”的服务理念,努力提高维修技术,扩展测试手段,丰富维修经验,更新测试设备。上位机和数据采集卡通过控制可调模拟负载来控制负载转矩,同时采集伺服系统的运行数据,并对数据进行保存、分析与显示。对于这种测试系统,通过对可调模拟负载进行控制,也可模拟各种负载情况下伺服驱动器的动、静态性能,完成对驱动系统的全面而准确的测试。但这种测试系统体积仍然比较大,不能满足便携式的要求,而且系统的测量和控制电路也比较复杂、成本也很高

这是一块带有导断时间调整,输出电压调节,电压反馈调节等多种保护于一体的控制芯片,较容易出现问题的地方主要有芯片14脚的电源,调整电压基准值的7脚,反馈检测的5脚以及波形输出的2脚等。对于开关电源的损坏,假如排除外围的部件包括开关管、起振电阻、脉冲变压器等的损坏外,***有可能出现问题的就是开关电源厚膜驱动电路了,在没有明显损坏痕迹下,可以外加直流电压测试厚膜电路能否正常输出驱动波形,外加直流电压一般在15V左右。如果输出波形正常,一般可以认为此厚膜电路正常。无波形输出基本可以判断此厚膜已损坏,更换厚膜解决此故障。HFC-VWS3系列变频器的驱动厚膜电路也是容易出故障的地方,但由于厚膜电路上所有元器件都已被封装了。应该采用更长的启动停止时间,并且根据其负载特性设置运行曲线类型。4.如果变频器仍然存在运行故障,应尝试增加*电流的保护值,但是不能取消保护,应留有至少10%-20%的保护余量。5.如果变频器运行故障还是发生,应更换更大一级功率的变频器。6.如果变频器带动电机在启动过程中达不到预设速度,可能有两种情况:系统发生机电共振,可以从电机运转的声音进行判断。采用设置频率跳跃值的方法,可以避开共振点。一般变频器能设定三级跳跃点。V/f控制的变频器驱动异步电机时,在某些频率段,电机的电流、转速会发生振荡,严重时系统无法运行,甚至在加速过程现过电流保护使得电机不能正常启动,在电机轻载或转动惯量较小时更为严重。普通变频器均备有频率跨跳功能。

这种测试系统由三部分组成,分别是被测驱动系统、系统固有负载及上位机。上位机将速度指令信号发送给驱动,系统按照指令开始运行。在运行过程中,上位机和数据采集电路采集伺服系统的运行数据,并对数据进行保存、分析与显示

带载测试。测试时,*是满负载测试。逆变功率模块主要有IGBT、IPM等,检查外观是否已炸开,端子与相连印制板是否有烧蚀痕迹。用万用表查C-E、G-C、G-E是否已通,或用万用表测P对U、V、W和N对U、V、W电阻是否有不一致,以及各驱动功率器件控制极对U、V、W、P、N的电阻是否有不一致,以此判断是哪一功率器件损坏。(1)器件本身质量不好。(2)外部负载有严重过电流、不平衡,电动机某相绕阻对地短路,有一相绕阻内部短路,负载机械卡住,相间击穿,输出电线有短路或对地短路。(3)负载上接了电容,或因布线不当对地电容太大,使功率管有冲击电流。(4)用户电网电压太高。或有较强的瞬间过电压,造成过电压损坏。以免在功率管导通(关断)瞬间,产生峰值很大的充电(或放电)电流,b、当输出滤波器由LC电路构成时,滤波器内接入电容器的一侧,必须与电动机侧相接。采用电抗器:在变频器的输入电流中频率较低的谐波成分(5次谐波、7次谐波、11次谐波、13次谐波等)所占的比重是很高的,它们除了可能干扰其它设备的正常运行之外,还因为它们消耗了大量的无功功率,使线路的功率因素大为下降。在输入电路内串入电抗器是抑制较低谐波电流的有效方法。根据接线位置的不同,(1)交流电抗器:串联在电源与变频器的输入侧之间。a、通过抑制谐波电流,c、削弱电源电压不平衡的影响。(2)直流电抗器:串联在整流桥和滤波电容器之间。它的功能比较单一。就是削弱输入电流中的高次谐波成分。

对于这种测试系统,负载采用被测系统的固有负载,因此测试过程贴近于驱动的实际工作情况,测试结果比较准确。但由于有的被测系统的固有负载不方便从装备上移走,因此测试过程只能在装备上进行,不是很方便。

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